Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych Stanisław Adamczak

Spis treści książki

• Okładka
• Strona tytułowa
• Strona redakcyjna
• Spis treści
• Od Autora
• 1. Informacje wprowadzające
  • 1.1. Wstęp
  • 1.2. Ogólne sposoby rozdzielania poszczególnych nierówności struktury geometrycznej powierzchni
    • 1.2.1. Sposób przybliżony
    • 1.2.2. Sposób mechaniczno-geometryczny
    • 1.2.3. Sposób wykorzystujący filtrację elektryczną
    • 1.2.4. Sposób z wykorzystaniem filtru odcinającego
    • 1.2.5. Sposób z wykorzystaniem analizy falkowej
  • 1.3. Tolerancje geometryczne
    • 1.3.1. Zarysy kształtu
    • 1.3.2. Zarysy odnoszące się do kierunku
    • 1.3.3. Zarysy odnoszące się do położenia elementu
    • 1.3.4. Zarysy odnoszące się do bicia
• 2. Zamknięte zarysy okrągłości i falistości powierzchni
  • 2.1. Podstawowa terminologia i definicje w ujęciu tradycyjnym
  • 2.2. Podstawowa terminologia i definicje w nowym ujęciu
  • 2.3. Metody oceny zarysu okrągłości
    • 2.3.1. Analiza harmoniczna
    • 2.3.2. Parametry oceny zarysów okrągłości
    • 2.3.3. Parametry zarysów okrągłości według najnowszych norm
  • 2.4. Metody pomiaru zmian promienia
    • 2.4.1. Błędy przyrządów pomiarowych
    • 2.4.2. Nadzór metrologiczny przyrządów
    • 2.4.3. Program komputerowy roform
    • 2.4.4. Komputeryzacja przyrządów pomiarowych
    • 2.4.5. Przykłady wyników pomiarów okrągłości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej
  • 2.5. Odniesieniowe metody pomiaru zarysów okrągłości
    • 2.5.1. Zasada pomiaru w metodach odniesieniowych
    • 2.5.2. Rodzaje metod odniesieniowych
    • 2.5.3. Zalecane parametry metod odniesieniowych
    • 2.5.4. Transformacja zarysu zmierzonego na zarys rzeczywisty
    • 2.5.5. Komputeryzacja metod odniesieniowych
    • 2.5.6. Program komputerowy SAJD
    • 2.5.7. Sposoby realizacji metod
    • 2.5.8. Przybliżona metoda oceny odchyłki okrągłości
    • 2.5.9. Istota odwróconych odniesieniowych metod pomiaru
  • 2.6. Odniesieniowe metody pomiaru do oceny falistości powierzchni dla zarysów zamkniętych
• 3. Zarysy walcowości
  • 3.1. Pomiary zarysów walcowości ustalane metodą oceny zmian promieni
    • 3.1.1. Podstawowa terminologia i definicje
    • 3.1.2. Parametry oceny zarysów walcowości
    • 3.1.3. Dodatkowe parametry oceny zarysów walcowości
    • 3.1.4. Strategie pomiarowe
    • 3.1.5. Ocena zarysów walcowości zasady prowadzenia pomiarów
    • 3.1.6. Eksperymentalna weryfikacja opracowanych strategii pomiarowych zarysów walcowości
    • 3.1.7. Komputeryzacja przyrządów pomiarowych
    • 3.1.8. Program komputerowy cyform
  • 3.2. Pomiary zarysów walcowości metodami odniesieniowymi
    • 3.2.1. Istota pomiarów zarysów walcowości
    • 3.2.2. Koncepcja odniesieniowych pomiarów zarysów walcowości
    • 3.2.3. Określenie zależności między zarysem zmierzonym a rzeczywistym
    • 3.2.4. Współrzędnościowe pomiary zarysów walcowości
• 4. Zarysy prostoliniowości
  • 4.1. Podstawowe określenia i definicje
  • 4.2. Parametry oceny zarysów prostoliniowości
  • 4.3. Filtrowanie zarysów prostoliniowości
  • 4.4. Technika pomiarów zarysów prostoliniowości
  • 4.5. Program komputerowy LIFORM
  • 4.6. Przykłady pomiarów zarysów prostoliniowości zaczerpnięte z praktyki pomiarowej
• 5. Zarysy płaskości
  • 5.1. Podstawowa terminologia i definicje
  • 5.2. Parametry oceny zarysów płaskości
  • 5.3. Zasady prowadzenia pomiarów
  • 5.4. Strategie pomiarowe
  • 5.5. Przykłady pomiarów zarysów płaskości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej
• 6. Niedomknięte zarysy kształtu
• 7. Zarysy kulistości
  • 7.1. Podstawowa terminologia i definicje
  • 7.2. Parametry oceny zarysów kulistości
  • 7.3. Strategie pomiarowe
  • 7.4. Eksperymentalna weryfikacja opracowanej koncepcji pomiaru odchyłek kulistości strategią kombinowaną oparta na kontrolowanym obrocie
    • 7.4.1. Modelowe stanowisko badawcze do dokładnych pomiarów odchyłek kulistości
    • 7.4.2. Badania eksperymentalne
• 8. Ocena mikro- i nanochropowatości oraz falistości powierzchni
  • 8.1. Pomiary profilu
    • 8.1.1. Informacje podstawowe
    • 8.1.2. Powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych
    • 8.1.3. Zasady i warunki prowadzenia pomiarów
    • 8.1.4. Wzorce kontrolne i użytkowe
    • 8.1.5. Komputeryzacja przyrządów do pomiaru falistości i chropowatości powierzchni
  • 8.2. Pomiary przestrzenne
    • 8.2.1. Informacje wstępne
    • 8.2.2. Parametry oceny powierzchni w układzie 3D
    • 8.2.3. Parametry związane z funkcyjnym przedstawieniem powierzchni w układzie 3D
    • 8.2.4. Wzorce przestrzennych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni
• 9. Kompleksowe profilometryczne pomiary niedomkniętych zarysów kształtu
  • 9.1. Istota kompleksowych pomiarów zarysów niedomkniętych
  • 9.2. Program komputerowy PROFORM
  • 9.3. Kompleksowa ocena zarysu
    • 9.3.1. Ocena profilu chropowatości powierzchni
    • 9.3.2. Ocena profilu falistości powierzchni
    • 9.3.3. Ocena zarysu kształtu
    • 9.3.4. Statystyczna analiza wyników pomiaru
  • 9.4. Przykładowe kompleksowe pomiary zaczerpnięte z praktyki przemysłowej
• 10. Statystyczne badania porównawcze przyrządów
  • 10.1. Eksperymentalny błąd pomiaru dla porównywanych przyrządów
  • 10.2. Statystyczne wyznaczenie błędu pomiaru odniesieniowych metod pomiarów zarysów okrągłości dla wybranych próbek z uwzględnieniem wartości odchyłki okrągłości
    • 10.2.1. Procedury estymacji i testu istotności dla wartości średniej eksperymentalnego błędu pomiaru
    • 10.2.2. Procedury estymacji i testu istotności dla wariancji i odchylenia średniego eksperymentalnego błędu pomiaru
    • 10.2.3. Oszacowanie przedziału ufności pojedynczego błędu pomiaru
    • 10.2.4. Ocena przykładowych wyników statystycznego testowania błędu pomiaru skomputeryzowanego odniesieniowego przyrządu pomiarowego z wzorcowym przyrządem Talyrond 73, którego działanie oparto na metodzie pomiaru zmian promienia
  • 10.3. Metoda statystycznego porównywania zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego
    • 10.3.1. Procedura estymacji punktowej współczynnika korelacji
    • 10.3.2. Przykładowa ocena wyników badań statystycznych porównywanych zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego
• 11. Przyrządy pomiarowe
  • 11.1. Informacje podstawowe dotyczące metrologii ogólnej
  • 11.2. Ogólne informacje dotyczące elementów budowy i charakterystyki narzędzi pomiarowych
    • 11.2.1. Klasyfikacja przyrządów pomiarowych do pomiarów profilu
    • 11.2.2. Definicje dotyczące analizowanych profili
    • 11.2.3. Elementy składowe przyrządów stykowych
    • 11.2.4. Charakterystyki metrologiczne przyrządów
    • 11.2.5. Przykładowe wartości nominalne niektórych charakterystyk przyrządu
  • 11.3. Metody przestrzennego pomiaru powierzchni
    • 11.3.1. Metody profilowania liniowego
    • 11.3.2. Metody topografii przestrzennej
    • 11.3.3. Eksperymentalne porównanie wybranych metod przestrzennego pomiaru chropowatości powierzchni
  • 11.4. Odniesieniowe przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości
    • 11.4.1. Przegląd niektórych rozwiązań odniesieniowych przyrządów pomiarowych
    • 11.4.2. Rozwiązania oryginalnych pryzm wykorzystywanych do pomiarów odniesieniowych zarysów okrągłości
    • 11.4.3. Przyrząd do uzyskiwania wzorców zarysów okrągłości [P4]
  • 11.5. Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości metodą pomiaru zmian promienia (bezodniesieniowe)
    • 11.5.1. Rozwiązania konstrukcyjne stosowanych zespołów obrotowych wrzecion czujników pomiarowych
    • 11.5.2. Rozwiązania konstrukcyjne stołów obrotowych
    • 11.5.3. Przegląd przyrządów pomiarowych do oceny zarysów okrągłości
  • 11.6. Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów walcowości
    • 11.6.1. Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym wrzecionem
    • 11.6.2. Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym stołem
    • 11.6.3. Przegląd przyrządów do pomiaru zarysu walcowości i innych błędów powierzchni
  • 11.7. Przyrządy stykowe do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni
    • 11.7.1. Profilometry
    • 11.7.2. Kształtografy
    • 11.7.3. Przyrządy profilometryczne do kompleksowych pomiarów
    • 11.7.4. Przyrządy optyczne
• Posłowie
• Literatura
• Załącznik
• Przypisy

pokaż cały spis treści

ukryj recenzje