Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
- Autor:
- Stanisław Adamczak
- Wydawnictwo:
- Wydawnictwo Naukowe PWN
- Ocena:
- Bądź pierwszym, który oceni tę książkę
- Stron:
- 450
- Dostępne formaty:
-
ePubMobi
Opis ebooka: Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Wybrane bestsellery
-
W książce omówiono zagadnienia związane z zastosowaniem w geoinżynierii materiałów alternatywnych są to najczęściej materiały odpadowe możliwe do wykorzystania w mieszaninach gruntowych lub innych strukturach geotechnicznych. W tomie 1 omówiono materiały odpadowe powstające podczas produkcji ener...
Zrównoważona geotechnika - materiały alternatywne Część 1 Zrównoważona geotechnika - materiały alternatywne Część 1
Małgorzata Jastrzębska, Magdalena Kowalska, Karolina Knapik-Jajkiewicz
(51.35 zł najniższa cena z 30 dni)63.20 zł
79.00 zł(-20%) -
In this script, the laboratory exercises presented are divided into two groups. In the fi rst group, the authors describe the stands and test methods to determine the basic strength parameters of soils and rocks. The stands discussed allow students to become familiar with model processes of inter...
-
W książce zawarto aktualny stan wiedzy na temat mostów stalowych. Przedstawione zostały zasady kształtowania, konstruowania, a także analizy statycznej, dynamicznej i wytrzymałościowej z uwzględnieniem sposobu zapewnienia trwałości. Zaprezentowano również procedury obliczeniowe oparte na Eurokoda...(161.85 zł najniższa cena z 30 dni)
199.20 zł
249.00 zł(-20%) -
W pracy przedstawiono zagadnienia oddziaływania energii wyładowania elektrycznego na przebieg procesu erozji i skutki jakościowe mikrowycinania elektroerozyjnego trudnoobrabialnych materiałów, czyli Inconelu 718 oraz stopu tytanu Ti6Al4V. Analiza stanu wiedzy, dotycząca badań nad obróbką elektroe...
Technologia mikrowycinania elektroerozyjnego materiałów trudnoobrabialnych Technologia mikrowycinania elektroerozyjnego materiałów trudnoobrabialnych
-
The monograph formulates and solves selected issues of the theory of linear elasticity and rheology of thermosetting polymers and unidirectional monotropic fibre-reinforced thermoset matrix (UFRT) composites. The analytical modelling includes: the quasi-exact homogenization theory of UFRT composi...
Selected Problems in Mechanics of Thermosets and Unidirectional Fibre-Reinforced Thermoset Matrix Composites Selected Problems in Mechanics of Thermosets and Unidirectional Fibre-Reinforced Thermoset Matrix Composites
-
Skrypt zawiera omówienie ćwiczeń laboratoryjnych, dotyczących wybranych zagadnień przetwórstwa tworzyw sztucznych - materiałowych, technologicznych i konstrukcyjnych. Są to ćwiczenia obejmujące zagadnienia płynności polimerów i podstawowych przepływów, występujących w procesach przetwórstwa tworz...
Wybrane zagadnienia przetwórstwa tworzyw sztucznych. Laboratorium Wybrane zagadnienia przetwórstwa tworzyw sztucznych. Laboratorium
-
W podręczniku zaprezentowano aktualny stan wiedzy w zakresie charakterystyki mechanicznego urabiania. Przedstawiono tu metody niszczenia struktury minerałów naturalnych i sztucznych, możliwe do zastosowania w chwili obecnej oraz te, które można przewidzieć, że pojawią się w przyszłości. Mamy tu r...(77.35 zł najniższa cena z 30 dni)
95.20 zł
119.00 zł(-20%) -
Książka Poradnik ślusarza tradycyjne i nowoczesne technologie składa się z 4 części. Część pierwsza, wprowadzająca, zawiera informacje ogólnotechniczne, istotne dla mechaników wszystkich specjalności. Opisane są w niej materiały konstrukcyjne, podstawy rysunku technicznego i podana jest krótka c...(86.43 zł najniższa cena z 30 dni)
103.20 zł
129.00 zł(-20%) -
Publikacja Analiza i modelowanie powierzchni wytwarzanych w obróbce ubytkowej poświęcona jest zagadnieniom związanym z aktualną i istotną kwestią dotyczącą ubytkowej obróbki materiałów (tematyki wcześniej prezentowanej już w publikacjach np.: Podstawy skrawania materiałów konstrukcyjnych czy Hybr...
Analiza i modelowanie powierzchni wytwarzanych w obróbce ubytkowej Analiza i modelowanie powierzchni wytwarzanych w obróbce ubytkowej
(70.85 zł najniższa cena z 30 dni)87.20 zł
109.00 zł(-20%) -
Wraz z rozwojem społeczno-gospodarczym obserwujemy kolejne wyzwania, na które muszą reagować zarządzający przedsiębiorstwami w różnych obszarach gospodarki. Zmiany te wynikają nie tylko z postępującego upowszechniania nowych technologii, lecz także z ogólnoświatowych kryzysów i trendów. Coraz czę...
Współczesne wyzwania transportu, spedycji oraz logistyki - wybrane aspekty Współczesne wyzwania transportu, spedycji oraz logistyki - wybrane aspekty
Ebooka "Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" przeczytasz na:
-
czytnikach Inkbook, Kindle, Pocketbook, Onyx Boox i innych
-
systemach Windows, MacOS i innych
-
systemach Windows, Android, iOS, HarmonyOS
-
na dowolnych urządzeniach i aplikacjach obsługujących formaty: PDF, EPub, Mobi
Masz pytania? Zajrzyj do zakładki Pomoc »
Audiobooka "Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" posłuchasz:
-
w aplikacji Ebookpoint na Android, iOS, HarmonyOs
-
na systemach Windows, MacOS i innych
-
na dowolnych urządzeniach i aplikacjach obsługujących format MP3 (pliki spakowane w ZIP)
Masz pytania? Zajrzyj do zakładki Pomoc »
Kurs Video "Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" zobaczysz:
-
w aplikacjach Ebookpoint i Videopoint na Android, iOS, HarmonyOs
-
na systemach Windows, MacOS i innych z dostępem do najnowszej wersji Twojej przeglądarki internetowej
Szczegóły ebooka
- ISBN Ebooka:
- 978-83-012-3339-6, 9788301233396
- Data wydania ebooka:
- 2023-11-07 Data wydania ebooka często jest dniem wprowadzenia tytułu do sprzedaży i może nie być równoznaczna z datą wydania książki papierowej. Dodatkowe informacje możesz znaleźć w darmowym fragmencie. Jeśli masz wątpliwości skontaktuj się z nami sklep@ebookpoint.pl.
- Numer z katalogu:
- 220852
- Rozmiar pliku ePub:
- 21.6MB
- Rozmiar pliku Mobi:
- 44.3MB
- Pobierz przykładowy rozdział EPUB
- Pobierz przykładowy rozdział MOBI
Spis treści ebooka
- Okładka
- Strona tytułowa
- Strona redakcyjna
- Spis treści
- Od Autora
- 1. Informacje wprowadzające
- 1.1. Wstęp
- 1.2. Ogólne sposoby rozdzielania poszczególnych nierówności struktury geometrycznej powierzchni
- 1.2.1. Sposób przybliżony
- 1.2.2. Sposób mechaniczno-geometryczny
- 1.2.3. Sposób wykorzystujący filtrację elektryczną
- 1.2.4. Sposób z wykorzystaniem filtru odcinającego
- 1.2.5. Sposób z wykorzystaniem analizy falkowej
- 1.3. Tolerancje geometryczne
- 1.3.1. Zarysy kształtu
- 1.3.2. Zarysy odnoszące się do kierunku
- 1.3.3. Zarysy odnoszące się do położenia elementu
- 1.3.4. Zarysy odnoszące się do bicia
- 2. Zamknięte zarysy okrągłości i falistości powierzchni
- 2.1. Podstawowa terminologia i definicje w ujęciu tradycyjnym
- 2.2. Podstawowa terminologia i definicje w nowym ujęciu
- 2.3. Metody oceny zarysu okrągłości
- 2.3.1. Analiza harmoniczna
- 2.3.2. Parametry oceny zarysów okrągłości
- 2.3.3. Parametry zarysów okrągłości według najnowszych norm
- 2.4. Metody pomiaru zmian promienia
- 2.4.1. Błędy przyrządów pomiarowych
- 2.4.2. Nadzór metrologiczny przyrządów
- 2.4.3. Program komputerowy roform
- 2.4.4. Komputeryzacja przyrządów pomiarowych
- 2.4.5. Przykłady wyników pomiarów okrągłości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej
- 2.5. Odniesieniowe metody pomiaru zarysów okrągłości
- 2.5.1. Zasada pomiaru w metodach odniesieniowych
- 2.5.2. Rodzaje metod odniesieniowych
- 2.5.3. Zalecane parametry metod odniesieniowych
- 2.5.4. Transformacja zarysu zmierzonego na zarys rzeczywisty
- 2.5.5. Komputeryzacja metod odniesieniowych
- 2.5.6. Program komputerowy SAJD
- 2.5.7. Sposoby realizacji metod
- 2.5.8. Przybliżona metoda oceny odchyłki okrągłości
- 2.5.9. Istota odwróconych odniesieniowych metod pomiaru
- 2.6. Odniesieniowe metody pomiaru do oceny falistości powierzchni dla zarysów zamkniętych
- 3. Zarysy walcowości
- 3.1. Pomiary zarysów walcowości ustalane metodą oceny zmian promieni
- 3.1.1. Podstawowa terminologia i definicje
- 3.1.2. Parametry oceny zarysów walcowości
- 3.1.3. Dodatkowe parametry oceny zarysów walcowości
- 3.1.4. Strategie pomiarowe
- 3.1.5. Ocena zarysów walcowości zasady prowadzenia pomiarów
- 3.1.6. Eksperymentalna weryfikacja opracowanych strategii pomiarowych zarysów walcowości
- 3.1.7. Komputeryzacja przyrządów pomiarowych
- 3.1.8. Program komputerowy cyform
- 3.1. Pomiary zarysów walcowości ustalane metodą oceny zmian promieni
- 3.2. Pomiary zarysów walcowości metodami odniesieniowymi
- 3.2.1. Istota pomiarów zarysów walcowości
- 3.2.2. Koncepcja odniesieniowych pomiarów zarysów walcowości
- 3.2.3. Określenie zależności między zarysem zmierzonym a rzeczywistym
- 3.2.4. Współrzędnościowe pomiary zarysów walcowości
- 4. Zarysy prostoliniowości
- 4.1. Podstawowe określenia i definicje
- 4.2. Parametry oceny zarysów prostoliniowości
- 4.3. Filtrowanie zarysów prostoliniowości
- 4.4. Technika pomiarów zarysów prostoliniowości
- 4.5. Program komputerowy LIFORM
- 4.6. Przykłady pomiarów zarysów prostoliniowości zaczerpnięte z praktyki pomiarowej
- 5. Zarysy płaskości
- 5.1. Podstawowa terminologia i definicje
- 5.2. Parametry oceny zarysów płaskości
- 5.3. Zasady prowadzenia pomiarów
- 5.4. Strategie pomiarowe
- 5.5. Przykłady pomiarów zarysów płaskości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej
- 6. Niedomknięte zarysy kształtu
- 7. Zarysy kulistości
- 7.1. Podstawowa terminologia i definicje
- 7.2. Parametry oceny zarysów kulistości
- 7.3. Strategie pomiarowe
- 7.4. Eksperymentalna weryfikacja opracowanej koncepcji pomiaru odchyłek kulistości strategią kombinowaną oparta na kontrolowanym obrocie
- 7.4.1. Modelowe stanowisko badawcze do dokładnych pomiarów odchyłek kulistości
- 7.4.2. Badania eksperymentalne
- 8. Ocena mikro- i nanochropowatości oraz falistości powierzchni
- 8.1. Pomiary profilu
- 8.1.1. Informacje podstawowe
- 8.1.2. Powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych
- 8.1.3. Zasady i warunki prowadzenia pomiarów
- 8.1.4. Wzorce kontrolne i użytkowe
- 8.1.5. Komputeryzacja przyrządów do pomiaru falistości i chropowatości powierzchni
- 8.1. Pomiary profilu
- 8.2. Pomiary przestrzenne
- 8.2.1. Informacje wstępne
- 8.2.2. Parametry oceny powierzchni w układzie 3D
- 8.2.3. Parametry związane z funkcyjnym przedstawieniem powierzchni w układzie 3D
- 8.2.4. Wzorce przestrzennych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni
- 9. Kompleksowe profilometryczne pomiary niedomkniętych zarysów kształtu
- 9.1. Istota kompleksowych pomiarów zarysów niedomkniętych
- 9.2. Program komputerowy PROFORM
- 9.3. Kompleksowa ocena zarysu
- 9.3.1. Ocena profilu chropowatości powierzchni
- 9.3.2. Ocena profilu falistości powierzchni
- 9.3.3. Ocena zarysu kształtu
- 9.3.4. Statystyczna analiza wyników pomiaru
- 9.4. Przykładowe kompleksowe pomiary zaczerpnięte z praktyki przemysłowej
- 10. Statystyczne badania porównawcze przyrządów
- 10.1. Eksperymentalny błąd pomiaru dla porównywanych przyrządów
- 10.2. Statystyczne wyznaczenie błędu pomiaru odniesieniowych metod pomiarów zarysów okrągłości dla wybranych próbek z uwzględnieniem wartości odchyłki okrągłości
- 10.2.1. Procedury estymacji i testu istotności dla wartości średniej eksperymentalnego błędu pomiaru
- 10.2.2. Procedury estymacji i testu istotności dla wariancji i odchylenia średniego eksperymentalnego błędu pomiaru
- 10.2.3. Oszacowanie przedziału ufności pojedynczego błędu pomiaru
- 10.2.4. Ocena przykładowych wyników statystycznego testowania błędu pomiaru skomputeryzowanego odniesieniowego przyrządu pomiarowego z wzorcowym przyrządem Talyrond 73, którego działanie oparto na metodzie pomiaru zmian promienia
- 10.3. Metoda statystycznego porównywania zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego
- 10.3.1. Procedura estymacji punktowej współczynnika korelacji
- 10.3.2. Przykładowa ocena wyników badań statystycznych porównywanych zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego
- 11. Przyrządy pomiarowe
- 11.1. Informacje podstawowe dotyczące metrologii ogólnej
- 11.2. Ogólne informacje dotyczące elementów budowy i charakterystyki narzędzi pomiarowych
- 11.2.1. Klasyfikacja przyrządów pomiarowych do pomiarów profilu
- 11.2.2. Definicje dotyczące analizowanych profili
- 11.2.3. Elementy składowe przyrządów stykowych
- 11.2.4. Charakterystyki metrologiczne przyrządów
- 11.2.5. Przykładowe wartości nominalne niektórych charakterystyk przyrządu
- 11.3. Metody przestrzennego pomiaru powierzchni
- 11.3.1. Metody profilowania liniowego
- 11.3.2. Metody topografii przestrzennej
- 11.3.3. Eksperymentalne porównanie wybranych metod przestrzennego pomiaru chropowatości powierzchni
- 11.4. Odniesieniowe przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości
- 11.4.1. Przegląd niektórych rozwiązań odniesieniowych przyrządów pomiarowych
- 11.4.2. Rozwiązania oryginalnych pryzm wykorzystywanych do pomiarów odniesieniowych zarysów okrągłości
- 11.4.3. Przyrząd do uzyskiwania wzorców zarysów okrągłości [P4]
- 11.5. Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości metodą pomiaru zmian promienia (bezodniesieniowe)
- 11.5.1. Rozwiązania konstrukcyjne stosowanych zespołów obrotowych wrzecion czujników pomiarowych
- 11.5.2. Rozwiązania konstrukcyjne stołów obrotowych
- 11.5.3. Przegląd przyrządów pomiarowych do oceny zarysów okrągłości
- 11.6. Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów walcowości
- 11.6.1. Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym wrzecionem
- 11.6.2. Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym stołem
- 11.6.3. Przegląd przyrządów do pomiaru zarysu walcowości i innych błędów powierzchni
- 11.7. Przyrządy stykowe do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni
- 11.7.1. Profilometry
- 11.7.2. Kształtografy
- 11.7.3. Przyrządy profilometryczne do kompleksowych pomiarów
- 11.7.4. Przyrządy optyczne
- Posłowie
- Literatura
- Załącznik
- Przypisy
Wydawnictwo Naukowe PWN - inne książki
-
Światowy bestseller, który uczy, jak tworzyć bezpieczne systemy informatyczne. Podręcznik obejmuje nie tylko podstawy techniczne, takie jak kryptografia, kontrola dostępu i odporność na manipulacje, ale także sposób ich wykorzystania w prawdziwym życiu. Realne studia przypadków dotyczące bezpie...(93.12 zł najniższa cena z 30 dni)
111.20 zł
139.00 zł(-20%) -
Za każdym razem w psychoterapii pracujemy z konkretną, niepowtarzalną w swoim indywidualizmie osobą metodami pochodzącymi z wiedzy ogólnej. I, co niezwykle doniosłe, praca ta niejednokrotnie okazuje się skuteczna. W jaki sposób jest to możliwe? W pracy psychoterapeutycznej wszystkie drogi prowadz...
Konceptualizacja w terapii poznawczo-behawioralnej Konceptualizacja w terapii poznawczo-behawioralnej
(52.93 zł najniższa cena z 30 dni)63.20 zł
79.00 zł(-20%) -
David Attenborough jest najbardziej znanym popularyzatorem wiedzy przyrodniczej na świecie, twórcą filmów przyrodniczych, który z kamerą objechał świat, pokazał nam całe królestwo zwierząt i przeanalizował każdą większą grupę w kontekście roli, jaką odegrała w długim spektaklu życia, od jego pocz...(79.73 zł najniższa cena z 30 dni)
95.20 zł
119.00 zł(-20%) -
David Attenborough jest najbardziej znanym popularyzatorem wiedzy przyrodniczej na świecie, twórcą filmów przyrodniczych, który z kamerą objechał świat, pokazał nam całe królestwo zwierząt i przeanalizował każdą większą grupę w kontekście roli, jaką odegrała w długim spektaklu życia, od jego pocz...(39.90 zł najniższa cena z 30 dni)
47.20 zł
59.00 zł(-20%) -
"Gdzie przebiega granica między tym, co nas krzywdzi, a tym, co powoduje wzrost? Skąd mamy wiedzieć, które wydarzenie traumatyczne zbuduje nasz charakter, a które nas wyniszczy? Czy prawdą jest, że to, co nas nie zabije, uczyni nas silniejszymi? Jak możemy zmienić trajektorię, którą podążamy po t...(33.90 zł najniższa cena z 30 dni)
39.20 zł
49.00 zł(-20%) -
Jak skutecznie zaplanować i zrealizować każdy projekt na czas i zgodnie z budżetem? Bent Flyvbjerg, nazwany wiodącym światowym ekspertem od megaprojektów, we współpracy z autorem bestsellerów, Danem Gardnerem, dzieli się sekretami skutecznego planowania i realizacji każdego projektu na dowolną sk...(52.93 zł najniższa cena z 30 dni)
63.20 zł
79.00 zł(-20%) -
Fascynująca kultura Japonii Od prehistorii do współczesności W Dziejach kultury japońskiej profesor Ewa Pałasz-Rutkowska zabiera czytelników w podróż po fascynującej kulturze Japonii. Przedstawia sposób życia jej mieszkańców, ich język, wierzenia oraz zwyczaje i obyczaje. Prezentuje największe ...(66.33 zł najniższa cena z 30 dni)
79.20 zł
99.00 zł(-20%) -
Słynny podręcznik, pierwotnie przeznaczony dla studentów Kalifornijskiego Instytutu Technologicznego, następnie przekształcony przez współpracowników autora, Roberta B. Leightona i Matthew Sandsa, w najbardziej niezwykły podręcznik fizyki, jaki został kiedykolwiek napisany. Jego oryginalność pole...
Feynmana wykłady z fizyki. Tom 2.1. Elektryczność i magnetyzm, elektrodynamika Feynmana wykłady z fizyki. Tom 2.1. Elektryczność i magnetyzm, elektrodynamika
(55.25 zł najniższa cena z 30 dni)68.00 zł
85.00 zł(-20%) -
Słynny podręcznik, pierwotnie przeznaczony dla studentów Kalifornijskiego Instytutu Technologicznego, następnie przekształcony przez współpracowników autora, Roberta B. Leightona i Matthew Sandsa, w najbardziej niezwykły podręcznik fizyki, jaki został kiedykolwiek napisany. Jego oryginalność pole...
Feynmana wykłady z fizyki. Tom 1.2. Optyka, termodynamika, fale Feynmana wykłady z fizyki. Tom 1.2. Optyka, termodynamika, fale
(55.25 zł najniższa cena z 30 dni)68.00 zł
85.00 zł(-20%) -
Słynny podręcznik, pierwotnie przeznaczony dla studentów Kalifornijskiego Instytutu Technologicznego, następnie przekształcony przez współpracowników autora, Roberta B. Leightona i Matthew Sandsa, w najbardziej niezwykły podręcznik fizyki, jaki został kiedykolwiek napisany. Jego oryginalność pole...
Feynmana wykłady z fizyki. Tom 2.2. Elektrodynamika, fizyka ośrodków ciągłych Feynmana wykłady z fizyki. Tom 2.2. Elektrodynamika, fizyka ośrodków ciągłych
(55.25 zł najniższa cena z 30 dni)68.00 zł
85.00 zł(-20%)
Dzieki opcji "Druk na żądanie" do sprzedaży wracają tytuły Grupy Helion, które cieszyły sie dużym zainteresowaniem, a których nakład został wyprzedany.
Dla naszych Czytelników wydrukowaliśmy dodatkową pulę egzemplarzy w technice druku cyfrowego.
Co powinieneś wiedzieć o usłudze "Druk na żądanie":
- usługa obejmuje tylko widoczną poniżej listę tytułów, którą na bieżąco aktualizujemy;
- cena książki może być wyższa od początkowej ceny detalicznej, co jest spowodowane kosztami druku cyfrowego (wyższymi niż koszty tradycyjnego druku offsetowego). Obowiązująca cena jest zawsze podawana na stronie WWW książki;
- zawartość książki wraz z dodatkami (płyta CD, DVD) odpowiada jej pierwotnemu wydaniu i jest w pełni komplementarna;
- usługa nie obejmuje książek w kolorze.
Masz pytanie o konkretny tytuł? Napisz do nas: sklep[at]helion.pl.
Książka, którą chcesz zamówić pochodzi z końcówki nakładu. Oznacza to, że mogą się pojawić drobne defekty (otarcia, rysy, zagięcia).
Co powinieneś wiedzieć o usłudze "Końcówka nakładu":
- usługa obejmuje tylko książki oznaczone tagiem "Końcówka nakładu";
- wady o których mowa powyżej nie podlegają reklamacji;
Masz pytanie o konkretny tytuł? Napisz do nas: sklep[at]helion.pl.
Książka drukowana
Oceny i opinie klientów: Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych Stanisław Adamczak (0) Weryfikacja opinii następuję na podstawie historii zamówień na koncie Użytkownika umieszczającego opinię. Użytkownik mógł otrzymać punkty za opublikowanie opinii uprawniające do uzyskania rabatu w ramach Programu Punktowego.